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激光位移傳感器精準(zhǔn)破局半導(dǎo)體晶圓片檢測(cè)

激光位移傳感器精準(zhǔn)破局半導(dǎo)體晶圓片檢測(cè)

2026/2/11 10:54:40

在半導(dǎo)體制造的核心生產(chǎn)環(huán)節(jié),晶圓片平面度檢測(cè)是把控產(chǎn)品質(zhì)量、保障產(chǎn)線連續(xù)高效運(yùn)轉(zhuǎn)的關(guān)鍵一環(huán)。光子精密 PDM-050 激光位移傳感器針對(duì)半導(dǎo)體制造企業(yè)的晶圓片檢測(cè)需求,量身打造專業(yè)檢測(cè)方案,精準(zhǔn)破解行業(yè)檢測(cè)痛點(diǎn),成為半導(dǎo)體產(chǎn)線工業(yè)檢測(cè)的優(yōu)質(zhì)適配選擇。

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一、檢測(cè)背景:半導(dǎo)體產(chǎn)線的高精度高速檢測(cè)剛需

本次合作客戶為半導(dǎo)體制造生產(chǎn)企業(yè),在晶圓片生產(chǎn)質(zhì)檢環(huán)節(jié),需完成 2mm 厚硅片的多層重疊檢測(cè),核心要求明確:檢測(cè)精度需達(dá) 0.02mm、檢測(cè)速度 5KHz,同時(shí)檢測(cè)設(shè)備需適配產(chǎn)線節(jié)奏,保障生產(chǎn)線不間斷連續(xù)作業(yè),為半導(dǎo)體產(chǎn)品的高質(zhì)量量產(chǎn)筑牢質(zhì)檢防線。

二、核心痛點(diǎn):晶圓片檢測(cè)的三大行業(yè)難題

半導(dǎo)體晶圓片的材質(zhì)與檢測(cè)要求,讓傳統(tǒng)檢測(cè)方案難以適配,核心痛點(diǎn)集中在三方面:

  1. 測(cè)量穩(wěn)定性受表面特性制約:晶圓片呈鏡面反光特性,即便其復(fù)雜表面也易產(chǎn)生反光干擾,為檢測(cè)帶來不確定性,對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性形成挑戰(zhàn);

  2. 海量數(shù)據(jù)考驗(yàn)處理能力:晶圓片全表面掃描過程中會(huì)產(chǎn)生海量檢測(cè)數(shù)據(jù),對(duì)配套數(shù)據(jù)處理軟件的兼容性、硬件的計(jì)算處理能力均提出嚴(yán)苛要求;

  3. 高精度與高速檢測(cè)難以兼顧:傳統(tǒng)檢測(cè)方案的性能上限不足,無法同時(shí)滿足 0.02mm 高精度、5KHz 高速檢測(cè)的雙重核心需求,成為制約產(chǎn)線效率的質(zhì)檢瓶頸。

三、定制化解決方案:PDM-050 精準(zhǔn)匹配半導(dǎo)體檢測(cè)需求

針對(duì)客戶的檢測(cè)需求與行業(yè)痛點(diǎn),光子精密量身打造以 PDM-050 激光位移傳感器為核心的專業(yè)檢測(cè)方案,從硬件性能到軟件配套,實(shí)現(xiàn)檢測(cè)能力的全方位適配。硬件端采用 PDM-050 激光位移傳感器,其核心性能參數(shù)精準(zhǔn)匹配產(chǎn)線要求:檢測(cè)距離 50mm、量程 ±10mm,采樣頻率覆蓋 100-5000Hz,線性度 ±0.05% F.S.,可充分滿足高速、高精度的檢測(cè)需求;軟件端搭配專用 PD-Navigator 軟件,實(shí)現(xiàn)檢測(cè)數(shù)據(jù)的精準(zhǔn)反饋與全流程輕松管理。

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專屬檢測(cè)安裝與作業(yè)流程:將 PDM-050 傳感器以傾斜角度安裝于晶圓片上方,傳感器沿預(yù)定路徑對(duì)晶圓表面進(jìn)行全域掃描,快速捕捉晶圓表面一系列點(diǎn)位的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù),同時(shí)實(shí)時(shí)采集硅片厚度數(shù)據(jù),并同步傳輸至上位機(jī),形成從數(shù)據(jù)采集到傳輸?shù)耐暾麢z測(cè)鏈路,保障檢測(cè)流程的高效性與數(shù)據(jù)的完整性。

四、實(shí)施成果:四大核心突破,全面賦能產(chǎn)線升級(jí)

PDM-050 激光位移傳感器檢測(cè)方案落地后,不僅完美解決客戶的晶圓片檢測(cè)難題,更從精度、可視化、穩(wěn)定性、集成性等多維度實(shí)現(xiàn)突破,為產(chǎn)線帶來全方位升級(jí):

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  1. 檢測(cè)精度再超預(yù)期:實(shí)際檢測(cè)精度達(dá) 10μm,遠(yuǎn)超客戶 0.02mm 的要求標(biāo)準(zhǔn),可精準(zhǔn)識(shí)別晶圓片平面度偏差,從質(zhì)檢端嚴(yán)格把控產(chǎn)品質(zhì)量;

  2. 檢測(cè)狀態(tài)實(shí)時(shí)可視化:通過專用軟件實(shí)現(xiàn)檢測(cè)數(shù)據(jù)與設(shè)備狀態(tài)的實(shí)時(shí)呈現(xiàn),可快速定位晶圓片生產(chǎn)中的故障點(diǎn)位,大幅提升問題排查與處理效率;

  3. 復(fù)雜環(huán)境下性能穩(wěn)定:無懼晶圓片鏡面反光等復(fù)雜檢測(cè)環(huán)境干擾,設(shè)備可穩(wěn)定持續(xù)工作,檢測(cè)結(jié)果始終保持準(zhǔn)確一致,為產(chǎn)線連續(xù)作業(yè)提供堅(jiān)實(shí)保障;

  4. 適配產(chǎn)線集成需求:設(shè)備采用緊湊輕量化設(shè)計(jì),可輕松融入半導(dǎo)體生產(chǎn)線的布局與作業(yè)流程,大幅提升產(chǎn)線整體的可控性與生產(chǎn)效率。

審核編輯(
王靜
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